Product Demonstration
符合標準:
AEC-Q100、MIL-STD-750D、GJB128、JEDEC等標(biao)準。
適用(yong)范圍:
適用于(yu)各種封裝形式的射頻場效(xiao)應管(guan)、射頻功率器件進(jin)行高溫反向試驗。
技術特點:
每顆器件的Vgs獨立控(kong)制(zhi)。
實時監測每個試驗器件的Id、Ig。
控制上、下電時序。
全(quan)過程(cheng)試驗(yan)(yan)數據保存于硬盤中，可輸出Excel試驗(yan)(yan)報表和繪制全(quan)過程(cheng)漏電流IR變化(hua)曲線。
