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杭州高裕電子科技股份有限公司

產品展示

Product Demonstration

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微波器件高加速壽命偏壓老化測試系統(Hast)

符合標準:

AEC-Q100、MIL-STD-750D、GJB128、JEDEC等(deng)標準。

適用(yong)范圍:

適用于各種(zhong)封裝形式的射(she)頻場效應管、射(she)頻功率器件進(jin)

行(xing)溫濕(shi)度(du)下反偏(pian)試驗 。

技術特點:

每顆器件的Vgs獨(du)立控制(zhi)。

實(shi)時監測每個試驗(yan)器件的Id、Ig。

控制上、下電時序。

全過程試驗數據保存于硬盤中,可輸出Excel

試驗報表和繪制全過(guo)程漏電流IR變(bian)化曲線。



技術性能

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