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杭州高裕電子科技股份有限公司

產品展示

Product Demonstration

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IGBT模塊功率循環老化測試系統

符合標準:

IEC60749 、AQG324 等試驗標準(zhun)。

適用范圍:

適用于各(ge)種封(feng)裝形式的大功(gong)率IGBT模塊(kuai)、二極管模塊(kuai)的功(gong)率循(xun)環試(shi)驗。

技術特點:

嚴格(ge)滿足△Tj≥100℃。 

可實現秒級和分鐘(zhong)級循環試驗。

檢測(ce)顯示每次(ci)循環的△Tj。


技術性能

表格 p32.png