Product Demonstration
符合標準:
AEC-Q101、MIL-STD-750D、GJB128等試驗標準。
適用范圍:
適合各種封裝形式的(de)場效應(ying)管(guan)(guan)、IGBT單(dan)管(guan)(guan)、二極管(guan)(guan)、三極管(guan)(guan)間歇壽(shou)命試驗。
技術特點:
更換(huan)測試母板(ban)，可以滿足(zu)不同的試驗(yan)電路、不同的器件試驗(yan)。
每個(ge)回路加熱電流IH、測(ce)試電路Im獨立程序(xu)控制。
監(jian)控每顆器件的△TJ或者(zhe)TJ。
可兼容穩(wen)態(tai)壽命和間歇(xie)壽命試(shi)驗。
