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Product Demonstration
符合標準:
AEC-Q101、MIL-STD-750D、GJB128等(deng)試驗標準。
適用范圍:
適合各種封裝形式的場效(xiao)應(ying)管、IGBT單管間歇(xie)壽命試驗。
技術特點:
每個回路加熱電(dian)流IH、測試(shi)電(dian)路Im獨立(li)程(cheng)序控制。
監控每顆器件的△TJ或者TJ。
可(ke)兼容(rong)穩態壽命(ming)和(he)間歇壽命(ming)試驗。
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