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杭州高裕電子科技股份有限公司

產品展示

Product Demonstration

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可控硅老化測試系統

符合標準:

MIL-STD-750、GJB-128、AEC-Q101等試驗標準。

適用范圍:

適用于各種(zhong)封裝形式的可控硅(閘流晶體(ti)管(guan))壽命試驗(功率循(xun)環)和耐壓試驗。 


技術性能

表格 p28.png