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Product Demonstration
符合標準:
AEC-Q100、MIL-STD-750D、GJB128、JEDEC等(deng)試驗標準。
適用范圍:
適(shi)用于各種封裝形式的(de)微波功率器件在高溫(wen)下的(de)正向壽命試驗。
技術特點:
針對大(da)功率微波器件每顆器件獨立加熱板溫控。
每顆器件獨(du)立的Vd、Vg控制，獨(du)立的Id控制。
兼容穩態壽(shou)命(ming)、間(jian)歇(xie)壽(shou)命(ming)試驗 。
