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杭州高裕電子科技股份有限公司

產品展示

Product Demonstration

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微波器件高溫高濕反偏老化測試系統(H3TRB)

符合標準:

AEC-Q100、MIL-STD-750D、GJB128、JEDEC等標準。

適用范圍:

適用于各(ge)種封裝形(xing)式的射(she)頻場效應管、射(she)頻功率(lv)器件(jian)進

行溫(wen)濕度下反偏試驗 。

技術特點:

每顆器件(jian)的Vgs獨立控(kong)制。

實時監(jian)測每(mei)個試驗器件的Id、Ig。

控制上、下電時序。

全過(guo)程試驗數據(ju)保存(cun)于硬盤(pan)中(zhong),可(ke)輸出Excel

試驗報表和繪(hui)制全過程(cheng)漏電(dian)流IR變化曲線(xian)。


技術性能

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