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杭州高裕電子科技股份有限公司

產品展示

Product Demonstration

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高溫高濕反偏老化測試系統(單管、H3TRB)

符合標準:

JEDEC、 AEC-Q101等標(biao)準。

適用范圍:

適用于各種(zhong)封(feng)裝(zhuang)形式的二極(ji)管(guan)(guan)、三極(ji)管(guan)(guan)、場效應管(guan)(guan)、可(ke)控(kong)硅、單管(guan)(guan)IGBT等器件在高(gao)溫(wen)高(gao)濕條件下進行反(fan)向偏壓試驗。

技術特點:

實時監測每個試驗器件的漏電流。

全過程(cheng)試驗(yan)數據保存于硬盤中,可輸出Excel試驗(yan)報表和繪制全過程(cheng)漏(lou)電流IR變化曲線。


技術性能

表格 p23.png