Product Demonstration
符合標準:
AEC-Q101、MIL-STD-750D、GJB128、JEDEC等標準。
適用范圍:
適用于(yu)各種封裝形式的場效應(ying)管、IGBT單管等器件進行高(gao)溫柵極反偏試驗。
技術特點:
實時監測每個試驗器(qi)件的漏(lou)電流(liu)，漏(lou)電流(liu)最(zui)小監控值1nA。
每個回路漏電流超上(shang)限電子開關斷電保(bao)護。
全(quan)過程試驗數(shu)據保(bao)存(cun)于硬(ying)盤(pan)中(zhong)，可(ke)輸出Excel試驗報表和繪(hui)制全(quan)過程漏電(dian)流IR變化曲線。
