Product Demonstration
符合標準:
AEC-Q101、MIL-STD-750D、GJB128、JEDEC等標準(zhun)。
適用范圍:
適用于各種(zhong)封裝形式的場效應管(guan)、IGBT單管(guan)等器件進行高溫(wen)柵極(ji)反偏試驗。
技術特點:
實(shi)時監測每個試驗器件的(de)漏電(dian)流，漏電(dian)流最(zui)小監控(kong)值1nA。
全過程(cheng)(cheng)試驗數據(ju)保存于(yu)硬盤中，可(ke)輸出Excel試驗報表和(he)繪制全過程(cheng)(cheng)漏電流IR變(bian)化曲線。
