Product Demonstration
符合標準:
AEC-Q101、MIL-STD-750D、GJB128、JEDEC等標準。
適用范圍:
適用于各種(zhong)封(feng)裝形式的二極管(guan)、三極管(guan)、場效應管(guan)、可控硅、IGBT單管(guan)等(deng)器(qi)件進行高溫(wen)反偏試驗(yan)(HTRB)和高溫(wen)漏流測試（HTIR）。
技術特點:
可(ke)實時監(jian)測每個的結溫(wen)TJ。
實(shi)時監測每個試(shi)驗(yan)器件(jian)的(de)漏電流(liu)。
每個回路漏電(dian)流超上限(xian)電(dian)子(zi)開關斷電(dian)保(bao)護。
全過程試驗數據保存于硬盤中(zhong)，可輸(shu)出Excel試驗報表和繪制全過程漏電流IR變化曲線。
