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Product Demonstration
符合標準:
AEC-Q101、MIL-STD-750D、GJB128、JEDEC等標準。
適用范圍:
適用于各種封裝形式的二極管、三極管、場效應管、可控硅、IGBT單管等器件進行高溫反偏試驗(HTRB)。
技術特點:
實時監測每個(ge)試(shi)驗器件的(de)漏電流。
全過程試驗(yan)數(shu)據保(bao)存于硬盤(pan)中，可(ke)輸(shu)出Excel
試驗報表和繪制全過(guo)程漏電流IR變(bian)化曲線。
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