Product Demonstration
符合標準:
MIL-STD-750D、GJB128等試(shi)驗標(biao)準。
適用范圍:
適(shi)用于各種封裝形式(shi)的(de)中、小(xiao)功(gong)率(lv)二極管(guan)、三極管(guan)、場效應管(guan)、可控硅、集成穩壓器、光(guang)電耦合器、電阻(zu)等等元(yuan)器件的(de)穩態(tai)壽(shou)命(ming)試驗（CFOL）和間歇壽(shou)命(ming)試驗（IFOL）。
技術特點:
適(shi)用范圍廣，可滿足多(duo)種分立元器件的常溫壽(shou)命(ming)老化。
具有手動、自動加電模式。
