Product Demonstration
符合標準:
MIL-STD-883D、GJB597等試驗標準。
適用范圍:
適(shi)用于各種封裝(zhuang)形式(shi)的78XX、79XX、117、137、200等系列的集成(cheng)穩(wen)壓(ya)電路(lu)進行高(gao)溫條件下壽命老化。
技術特點:
一板一區，可(ke)滿足16種不同試驗參數的器件(jian)同時老化。
試(shi)驗條(tiao)件可從(cong)老化器件數據庫(ku)直(zhi)接調出(chu)，方便操(cao)作。
電(dian)(dian)子負載工(gong)作電(dian)(dian)流(liu)，試驗電(dian)(dian)壓可程控設定(ding)。
電子負載具有雙(shuang)向性。
可監測全(quan)過程試驗器件的結溫Tj(此功能非標(biao)配)。
