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杭州高裕電子科技股份有限公司

產品展示

Product Demonstration

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混合集成電路高溫動態老化測試系統(定制型)

符合標準:

AEC-Q100,MIL-STD-883D、MIL-M-38510、GJB548、GJB597等試驗標準。

適用范圍:

適用于各種封(feng)裝數(shu)字、模擬(ni)、數(shu)模混合電路進(jin)行高溫動態老(lao)化(hua)試驗(yan)。

技術特點:

一(yi)板一(yi)區,可(ke)滿足多種不同試(shi)驗參數的(de)器件(jian)同時老(lao)化(hua)。

完(wan)善的(de)、種類齊全的(de)老(lao)化器件數據庫可供(gong)用戶調用。

64路回(hui)(hui)檢(jian)信(xin)(xin)號,可設置回(hui)(hui)檢(jian)通(tong)道(dao)信(xin)(xin)號出錯依據(ju),并判(pan)斷該通(tong)道(dao)信(xin)(xin)號是(shi)否正(zheng)常(chang)。


技術性能

表格 p10.png