Product Demonstration
符合標準：
AEC-Q100, MIL-STD-883D、MIL-M-38510、GJB548.GJB597等試(shi)驗標(biao)準。
適用范圍：
適用于各種封(feng)裝(zhuang)形(xing)式的大、中、小規模(mo)數字、模(mo)擬、數模(mo)混合(he)集(ji)成電(dian)路,包括(kuo)微(wei)處(chu)理(li)器、邏輯電(dian)路、可編程器件(jian)、存儲器、A/D、D/A等器件(jian)的工作(zuo)壽(shou)命試驗和高(gao)溫動態老(lao)煉篩選。
技術特點：
—板—區(qu),可滿足多種同試驗參數(shu)的(de)器件同時老化。
強大的(de)圖形發生(sheng)系統,64路數字和4路模擬可編程信號(hao)。
可回檢輸入或輸出波形的頻率或幅度(du)。
