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杭州高裕電子科技股份有限公司

產品展示

Product Demonstration

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電源模塊高溫壽命老化測試系統

符合標準:

MIL-STD-883D、MIL-M-28787、GJB548等試(shi)驗標準。

適用范圍:

適用于各(ge)種中小功率(lv)單(dan)路、多(duo)路正負輸出的DC/DC、AC/DC電源(yuan)模塊(kuai)進行(xing)高溫恒流老化(hua)試驗。

技術特點:

一(yi)(yi)板一(yi)(yi)區,可(ke)滿足(zu)16種(zhong)不(bu)同試驗參數(shu)的器件同時老化。

試驗條(tiao)件(jian)可從老化器件(jian)數(shu)據庫直接調出(chu),方便操作。

電子負載工作電流(liu),試驗電壓(ya)可程控設(she)定。

電子負載(zai)具有雙向性。

電(dian)子(zi)負(fu)載可多路并(bing)聯使用。


技術性能

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