符合標準:
AEC-Q100，MIL-STD-883D、MIL-M-38510、GJB548、GJB597等(deng)試(shi)驗標準。
適用范圍:
適用于各種(zhong)封裝(zhuang)數字、模(mo)擬(ni)、數模(mo)混合電路進(jin)行高溫動(dong)態老(lao)化試驗。
技術特點:
一(yi)板一(yi)區，可滿足多種不同(tong)試驗參數的(de)器件同(tong)時老化。
完善的、種類齊(qi)全的老化器件數據庫可供用戶調用。
64路回檢(jian)信(xin)號，可設置(zhi)回檢(jian)通道(dao)信(xin)號出錯依據，并判斷該通道(dao)信(xin)號是否正(zheng)常。